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成像色度计/亮度计在LCD mura检测中的应用

1、概述

       液晶缺陷

       Mura测试原理

      测试标准

      算法概述

       WP600 Series Colorimeter解决方案

       WP214概述与测试方案

2、液晶缺陷

       Zara—漏光,漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不紧密导致灯管光直接透射出来。

       Zure—错误对位,指液晶屏的滤光单元与TFT对位出现错误导致的缺陷

       SIMI—基板上有污渍

       Mura—是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象,最简单的判断方法就是在暗室中切换 到黑色画面以及其它低灰阶画面,然后从各种不同的角度用力去看,随着各式各样的制 程瑕疵,液晶显示器就有各式各样的mura

3SEMI-D31测试Mura原理

       SEMI针对Mura测试建立了一个标准。

       定义:JND — Just Noticeable Difference

       公式: 

       Cjndmura 缺陷最小可觉察的对比度差异

       SjndC jnd下的mura 缺陷面积。

       可见,每一个Sjnd都有一个固定的Cjnd对应。

4SjndC jnd关系

       SjndC jnd是递减关系

       面积越大,人眼对对比度低的mura更敏感

       下图三个点可以说明SjndC jnd的关系

 











箭头所指的点两两灰度一样,但面积不一样,从而引起视觉敏感性不同

 

 

5Mura的算法

       1、分割——把图像分割成若干个区域,对每个区域算出平局对比度Cx分割算法很重要,各个厂家对此都有专门的算法设计。

       2SEMI定义了Mura的值,如下公式:

       

       Semu就是该区域的Mura

       根据该标准,目标区域的 SEMU 数值高于的,就可判定为mura 缺陷。但是,在实际应用中,平板显示器的制造商一般会根据企业的自身情况和产品特点相应地调整具体的判定指标。

6Westboro Photonics解决方案

       Westboro Photonics通过WP640/690成像式色度亮度计能精确得到被测屏幕的亮度色度分布图。相较于一般厂商的三片滤光片的方案,WP产品具有四个滤光片,能更准确测出三基色刺激值,在色度方面精度更高。而在Mura测试方面,是在SEMI标准的基础上,加入自身的算法对图像进行分割与评价,实现Mura值的测试。在图像分割、Mura定量方面可以通过脚本编辑实现客户定制。

7JND图像测试

       













Westboro Photonics能有效识别出显示屏的JND数据,客户可设置阈值,从而判断产品通过/不通过的标准

 

8WP系列产品能准确识别到mura

 





























9、优势

       WP系列产品的一大优势就是性价比高。

       设备小巧,有更多空间去给客户进行平台化设计。

       16bitA/D转换范围,提供更高的测试精度。

       色度计4个视觉刺激值滤波片,提供更符合CIE-1931的色度值测试。

       Mura算法上更直接,可设置的参数比其他厂家要少,更加简单。

       图形算法完全客制化,可由客户根据自己的要求去修改算法,实现客户个性化要求。

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