Semiprobe双面探针台-双面量测探针台产品描述：

Semiprobe双面探针台-双面量测探针台 基于SemiProbe的专利探针系统(PS4L)自适应结构设计制造，提供了无与伦比的灵活性和强大功能。目前，越来越多的应用要求能够从模具或晶片的两面进行探测。SemiProbe的DSP解决方案可满足以下需求：

• 探针从两侧
• 探针从顶部，检测输出从底部
• 探针从底部，检测输出从顶部的双侧测试需求。

Semiprobe双面探针台-双面量测探针台 与传统的探针系统不同，该系统所有的基础模块——基座、卡盘支架、卡盘、显微镜支架、显微镜移动、光学元件、操纵器等都是可更换升级的。这使得DSP能为许多不同应用提供完美的解决方案。独特的模块化设计使客户能够获得精确满足其要求的定制系统。更重要的是，随着环境或测试条件的变化，PS4L探针系统可以很容易地进行现场升级，以满足新的需求。与传统检测设备相比，能够让客户节约更多时间，更多成本。

双面探针系统（DSP）的发展：

双面探针系统（DSP）最初是用于两个应用：失效分析和离散设备。失效分析（FA）的应用涉及到发射显微镜，它需要接触晶圆的顶部或活动面，同时使用增强型或红外相机从另一侧成像。晶圆片安装时通常背面朝上朝向发射相机，而上部朝下。这简化了查找故障位置和确定故障根本原因的过程。包括SemiProbe在内的一些公司都有这种应用的解决方案。根据发射显微镜的类型和制造商，探测的一面可以是顶面或底面。

第二种类型的DSP系统用于探测分立大功率器件，包括晶闸管、二极管、整流器、电压抑制器、功率晶体管和/或IGBT。由于测试这些设备所用的功率，通过偏置卡盘进行普通背面接触是无法获得准确的结果的。通过单独接触DUT（被测设备）的背面，可获得准确的结果。此外，由于这些测试中所使用的功率，通常需要多个探头。

随着半导体行业不断努力在降低成本的同时提高设备的性能，新技术正在成为产品设计和生产的主流，这些新技术需要DSP解决方案——MEMS、光电子、硅通孔等等。另一个新兴的DSP应用涉及在晶圆上方或下方安装太阳模拟器头，以刺激另一面偏压的装置。在设计工作和表征方面，SemiProbe已开创了一些创新的DSP解决方案来探测这些设备。

Semiprobe双面探针台-双面量测探针台技术参数：

• 输入电压：110/220V 50/60Hz,20A
• 空气:最小流量100psi
• 真空：23 Hg or -0.8 bar
• 卡盘X-Y轴轨道：手动或编程控制
• 行程:205*205mm
• 卡盘Z轴轨道：手动或编程控制
• 行程：最高可达20mm
• θ移动：手动（＞30°）或编程控制（±4°）
• 显微镜移动：手动或编程控制
• 行程：50x50mm-200x200mm
• 卡盘载体：75mm，100mm，150mm，200mm
• 部分晶圆片
• 芯片托盘
• 压盘材料：铝与镀镍钢
• 光学元件：

1. 显微镜：大多数为立体变焦，100x放大倍数
2. 底部：数码变焦镜
3. 相机：两个光学元件都有CCTV相机，通过视频开关连接到显示器上

可选配件：

包括隔振台、暗箱、探针卡、操纵器、探测臂和基座、探针，光学部件，CCTV 系统、其他晶圆片载体等

Semiprobe双面探针台-双面量测探针台最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

产品描述：

TIDAS E MSP是一款简单实用的 TIDAS E MSP-经济型显微分光光度计-显微光谱仪 。覆盖300nm-1100nm波长范围，操作简单，价格实惠，是实现教学和教育目的的理想选择，适用于任何有C型安装适配器的显微镜。该系统有一个集成的比色皿支架，可独立于显微镜提供各种应用，提供最大的灵活性。TIDAS E MSP系统配有专业的完整软件包以用于仪器控制、数据存储和评估（如颜色分析、薄膜厚度等），其还配备了一个以太网接口，可以很容易地连接到现有的网络中。并可通过多个输入和输出端口将其与外部设备耦合，如探头，滤光片或光源等。TIDAS E MSP显微分光光度计可用于透射或荧光纤维分析、反射或透射中涂料或玻璃的颜色分析、印刷油墨的测定、票据或纸币分析以及历史样本，如绘画或夹具等应用中。

技术参数：

• 产品尺寸：260 x 150 x 140 mm
• 产品重量：2.5kg
• 输入电压:100-240 VAC / 50-60 Hz
• 光谱范围：300-1100nm
• 光谱分辨率：<10nm
• 光谱精度：<3nm
• 波长重复性：<0.1nm
• 波长温度漂移：<0.005nm/℃
• 杂散光：<0.8% @450nm
• 基线漂移：< 1*10-3 AU/h according to ASTM E685

测试软件界面：

应用示例：

1、纤维分析

R15153 (红) 和R15154 (蓝) 具有极为相似的光谱性质。由于切断UV光线，样本R15155 (绿) 可能与其他两个纤维样本明显不同。

2、涂料块：
从不同位置分析涂料样本（车祸现场）；一小块样本只可对单颗粒进行色彩分析。

TIDAS E MSP-经济型显微分光光度计-显微光谱仪最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

J&M TIDASSMSP800显微分光光度计-MSP800显微光度计 可以非常有效地满足用户在法医学、材料科学、生物学和许多其他领域中对显微分析性能的严格要求，同时也因其快速和高灵敏度的测量能力使它深受全世界研究和工业用户的喜爱。TIDAS S MSP-800显微镜分光光度计是专为满足法医科学家的需要而设计的，其功能涵盖了与样品的透射、反射率或荧光有关的应用，具体取决于所选择的产品配置。该系统提供了一个完整的紫外/可见/近红外波长范围的显微镜光谱仪，可连接到不同制造商的显微镜。同时系统还搭配了功能强大的软件以适应不同需求。由于其固有的多功能性、高灵敏度和易用性,MSP800不仅可用于法医取证(纤维、油漆和玻璃、有问题的文档)，还可以用于更多领域，例如材料科学(包括纳米技术),半导体行业(膜厚分析,污染研究)显示工业(LED, OLED或TFT显示器质量控制)等行业中。

TIDAS MSP 系统适用范围包括:

• 在透射模式下可以测量光纤的紫外/可见光光谱
• 关于反射率（明/暗场）所有应用程序，偏振或荧光，取决于所选择的配置
• 获取时间小于1秒
• 通过J&M TidasVISION软件在线视频图像和光谱的同步采集
• 灵活可调的控光装置
• 灵活运用于法医学(MSP 400/800)，岩相学(MSP 200)，材料学和生物学(MSP 200/400)
• 光电倍增器或 CCD 探测器
• 可适应不同制造商的显微镜

软件介绍：

1、系统控制软件：MSP 800 软件（WIN XP / Vista）J&M 的软件可方便仪器的控制。附加可用的软件包提供数据处理、文档编制、导出选项和存储的多种功能。该仪器采用了CIE色彩评估体系，并能够产生互补的色度坐标值（CCC 认证）。

• 控制光度计和显微镜
• 单独配置分析参数
• 基于CIE的色彩分析，CCC系统（互补色度坐标）色度说明
• 在各种直方图或表格中显示结果
• 可导出到不同的数据类型
• 校准标准可选

2、在线视频成像软件：TidasVISION软件使用J&M公司的TidasVISION软件，可实现在线视频影像和光谱的同步采集。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。

• 可同时在线视频成像
• 可存储视频图像
• 在感兴趣的取样点上展示测量膜片

TIDASSMSP800显微分光光度计-MSP800显微光度计 测试软件界面：

技术参数：

• 产品尺寸：345 x 145 x 315 mm
• 产品重量：8kg
• 输入电压:90-240 VAC / 50-60 Hz
• 光谱范围：200-980nm
• 光谱分辨率：<4nm
• 光谱精度：<0.5nm
• 波长重复性：<0.1nm
• 基线漂移：5*10^-4AU/h according to ASTM E685@250nm
• 信噪比：< 4*10^-5 AU according to ASTM E685
• 适配显微镜类型：莱卡或蔡司或奥林巴斯

TIDASSMSP800显微分光光度计-MSP800显微光度计最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

SemiProbe半自动探针台-半自动晶圆探针台-光电探针台产品描述：

SemiProbe半自动探针台-半自动晶圆探针台-光电探针台 采用了 SemiProbe 独家专利技术 Probe System for Life (PS4L)可适应性模块化结构设计，提供了无与伦比的灵活性并大大地节省了设备资金和费用。与传统的探针台相比，SemiProbe 的 PS4L 系列探针台中所有的基础模块-基座，卡盘支架，卡盘，显微镜装置，显微镜移动，光学组件，操纵器等都是可以更换的，使得 PS4L 系列探针台以其极大的灵活性和性价比满足了多种应用需求，为客户提供了非常经济适用以及完美的解决方案。更重要的是，PS4L的模块化结构设计，可以使探针台在一个基本平台的基础上不断的进行升级。可根据测试环境和测试条件的改变而进行现场升级，由手动探针台升级为半自动探针台，半自动探针台升级为全自动探针台，或者6”升级为8”，8”升级为12”，增加密闭测试仓，增加高低温等，以满足用户新的要求。这样的设计理念使得即使当晶圆尺寸，自动化的程度或者测试要求发生改变时，PS4L 也无需重新更换新的平台，便可用最短的时效和最少的费用完成测试。

PILOT控制软件：

SemiProb的半自动探针系统使用 SemiProbe 的 PILOT 控制软件包进行操作，软件和 PS4L 硬件一样采用的是SemiProbe 独家专利技术 Probe System for Life(PS4L)可适应性结构化设计。PILOT 软件包是一款模块化最明显、最直观且易操作的软件。在不改变核心控制软件的前提上，客户可增添控制模块来增加额外的功能和附件。其一般的功能比如2点校准，功能强大且易操作——甚至不经常操作设备的用户也非常容易上手。

SemiProbe半自动探针台-半自动晶圆探针台-光电探针台 技术参数（型号：PS4L SA-4）：

• 产品尺寸：900 mm x 650 mm x 750 mm
• 重量：80Kg
• 输入电压：110/220V 50/60Hz,20A
• 真空:23 Hg or -0.8 bar
• 卡盘X-Y轴轨道：NEMA 17步进电机，光学线性编码器
• 行程:105*105mm
•  速度：50mm/s(最大)
• 平面性:±6μm
• 分辨率:0.1μm
• 重复性：±0.5μm
• 精度：±3um
• 卡盘Z轴轨道：行程：15mm
• 分辨率：0.5μm
•  重复性：±1.5μm
• θ移动：行程：±4°（可定制）
•   分辨率:0.0008°
• 卡盘类型：真空或机械夹紧，圆形或方形，三轴，高频，高压/高电流，高低温等
• 压盘：铝和不锈钢顶部，可拆卸前楔
• 360度机械手放置
• 压盘位移：可选择固定和线性调节
•  线性调节范围：40mm粗调，200um微调

SemiProbe半自动探针台-半自动晶圆探针台-光电探针台 可选配件：

包括探针卡，操纵器，操纵臂和基座， 探针，激光，光学部件，CCTV 系统，隔振台，暗箱。

SemiProbe半自动探针台-半自动晶圆探针台-光电探针台最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

Semiprobe全自动探针台-量产型全自动探针台-全自动探针台 产品描述：

Semiprobe全自动探针台-量产型全自动探针台-全自动探针台 采用了 SemiProbe 独家专利技术 Probe System for Life (PS4L)可适应性模块化结构设计，提供了无与伦比的灵活性并大大地节省了设备资金和费用。与传统的探针台相比，SemiProbe 的 PS4L 系列探针台中所有的基础模块-基座，卡盘支架，卡盘，显微镜装置，显微镜移动，光学组件，操纵器等都是可以更换的，使得 PS4L 系列探针台以其极大的灵活性和性价比满足了多种应用需求，为客户提供了非常经济适用以及完美的解决方案。更重要的是，PS4L的模块化结构设计，可以使探针台在一个基本平台的基础上不断的进行升级。可根据测试环境和测试条件的改变而进行现场升级，由手动探针台升级为半自动探针台，半自动探针台升级为全自动探针台，或者6”升级为8”，8”升级为12”，增加密闭测试仓，增加高低温等，以满足用户新的要求。这样的设计理念使得即使当晶圆尺寸，自动化的程度或者测试要求发生改变时，PS4L 也无需重新更换新的平台，便可用最短的时效和最少的费用完成测试。

Semiprobe全自动探针台-量产型全自动探针台-全自动探针台 PILOT控制软件：

SemiProbe的全自动探针系统使用 SemiProbe 的 PILOT 控制软件包进行操作，软件和 PS4L 硬件一样采用的是SemiProbe 独家专利技术 Probe System for Life (PS4L)可适应性结构化设计。PILOT 软件包是一款模块化最明显、最直观且易操作的软件。在不改变核心控制软件的前提上，客户可增添控制模块来增加额外功能和附件。其一般的功能比如2点校准，功能强大且易操作——甚至不经常操作设备的用户也非常容易上手。

技术参数（型号：PS4L FA-6）：

• 产品尺寸：900 mm x 1625 mm x 2438 mm
• 重量：240Kg
• 输入电压：110/220V 50/60Hz,20A
• 真空：23 Hg or -0.8 bar
• 卡盘X-Y轴轨道： NEMA 17步进电机，光学线性编码器
• 行程:155*155mm（可升级）
• 速度：50mm/s(最大)
• 平面性:±8μm
• 分辨率:0.1μm
• 精度：±3μm
• 重复性：±0.5μm
• 卡盘Z轴轨道：行程：15mm
• 分辨率：0.5μm
• 重复性：±1.5μm
• θ移动：行程：±4°（可定制）
• 分辨率:0.00001°
• 卡盘类型：真空或机械夹紧，圆形或方形，三轴，高频，高压/高电流，高低温等
• 压盘：铝和不锈钢顶部，可拆卸前楔
• 360度机械手放置
• 压盘位移：可选择固定和线性调节
• 线性调节范围：40mm粗调，200um微调

可选配件：

包括探针卡，操纵器，操纵臂和基座， 探针，激光，光学部件，CCTV 系统，隔振台，暗箱。

Semiprobe全自动探针台-量产型全自动探针台-全自动探针台最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

Semiprobe半自动真空探针台-半自动真空光电探针台-高低温真空探针台 采用PS4L专利技术制造了一系列真空探测系统，可在真空环境中测试晶片或基板。此外，单个模具和破损/部分晶圆可以用真空探测系统进行测试。所有关键模块都可以更换和升级。SA-xVP半自动真空探针台可用于芯片、部分晶圆和整个晶圆（200mm以下）的研发至生产中。该真空探针台是MEMS、传感器、开关、微测热辐射计或真空封装产品的理想选择。可根据客户需求进行定制，以满足各种应用和预算。

Probe System for Life (PS4L) 探针台：

Semiprobe半自动真空探针台-半自动真空光电探针台-高低温真空探针台 采用了SemiProbe 独家专利技术 Probe System for Life (PS4L)可适应性结构设计，提供了无与伦比的灵活性并大大地节省了设备资金费用。与传统的探针台相比，SemiProbe 的 PS4L 探针台中所有的基础模块-基座，支架,卡盘，显微镜装置，显微镜移动，光学组件，操纵器等都是可以更换的。这使得 PS4L探针台以极低的价格便可满足多种应用需求，为客户提供了完美的解决方案。更重要的是，PS4L可根据测试环境和测试条件的改变而进行现场升级以满足新的要求。这样的设计理念使得即使当晶圆尺寸，自动化的程度或者测试要求发生改变时，PS4L也无需重新更换新的平台，便可用最短的时效和最经济的费用完成有效的测试。

真空系统：

半自动探针系统将在真空环境中测试200mm以下的晶圆或基板。也可以测试单个芯片和破碎/部分晶圆。该系统是使用SemiProbe的PS4L自适应架构构建的。所有关键模块都是可互换的，以提供无与伦比的灵活性。该系统非常适合于研究、实验室或试生产应用。可更换的模块使其易于转换，为各种应用提供测试解决方案-直流、高频、光电、微机电系统、纳米技术等等。该系统易于定制，以满足各种应用和预算。所有模块都是可更换的，可以根据需要添加许多附件。有几种不同类型的真空泵和控制器可满足各种真空度。

技术参数：

型号：SA-4VP

• 晶圆/基板尺寸：100mm
• 晶圆卡盘：可达100mm
• 卡盘支架行程（X,Y)：105 mm x 105 mm

型号：SA-6VP

• 晶圆/基板尺寸：150mm
• 晶圆卡盘：可达150mm
• 卡盘支架行程（X,Y)：155 mm x 155 mm

型号：SA-8VP

• 晶圆/基板尺寸：200 mm
• 晶圆卡盘：可达200mm
• 卡盘支架行程（X,Y)：205 mm x 205 mm

• 精确度：+/- 3.0μm
• 分辨率：0.1 μm
• 重复精度：+/- 0.5 μm
• Z轴行程：15mm
• Z轴分辨率：0.5μm
• Z轴重复精度：+/- 1.5 μm
• θ转轴：+/- 4度
• 电动机：带编码器的直流步进电动机
• 卡盘支架的真空吸力：10^-5 torr
• 信号和驱动隔板：同轴、三轴或25针D连接器
• 设备触点：最多8个可编程操纵器（要求选择腔室顶部）
• 探针卡：圆形或矩形-工业标准4.5“x 12”
• 腔室顶部：2个标准腔室顶部-探针卡应用的平顶部和可编程操纵器应用的高顶部
• 热卡盘：尺寸和温度可选。典型:-65^oC-300^oC
• 光学元件/显微镜移动：50x50mm(标准)-手动或可编程
• 光学元件Z轴行程：50mm-100mm - 手动、气动或可编程
• 光学元件/显微镜：立体变焦、复合变焦、变焦管、AZoom
• 变焦范围：2x-40x，取决于所选的显微镜
• 放大倍数：7x-400x，取决于所选的显微镜
• 精密真空控制：MKS仪器精密真空控制提供100torr - 1mtorr的真空度控制
• 真空泵系统：双极泵系统，降至10-6 torr
• 泵类型：旋转叶片、涡旋、涡轮分子或TPS紧凑型（粗加工和涡轮分子）

配件：

• 操纵器、探针臂、探针头、探针卡夹、CCTV系统、激光切割机、
• Polytec MSA-500运动分析仪、红外黑体、热卡盘

PILOT软件显示:

PILOT软件主屏幕显示与导航仪和晶圆映射模块，显微镜和操纵器控制和集成视频显示

Semiprobe半自动真空探针台-半自动真空光电探针台-高低温真空探针台最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

MSP200显微分光光度计-MSP200专业煤岩显微分析系统 岩相分析在煤碳成因研究和利用的背景下已得到国际的重视。镜质体反射率测量是煤炭质量评估的重要依据，煤岩相学国际委员会（ICCP）提出了相关的分析方法和建议。在ISO/DIN 规范 7404和ASTM D2798中，描述了显微样品的制备和测试方法以及数据处理。通过将灵敏的光谱仪与显微镜耦合来检测镜质体反射率。此外GBT-6948-2008也详细阐述了镜质体反射率测量的具体方法。J&M公司的TIDAS S MSP-200显微分光光度计是专门为满足岩相学和地球化学界的需要而设计和研制的，被认为是煤、岩相学和地球化学分析的重要工具。它可与不同显微镜一起使用，具有快速和高灵敏度测量的能力，加上强大的软件提供了许多有用和方便的功能，这使其受到世界各地地质学家的青睐；因此，TIDAS S MSP-200在全球的实验室中得到了认可和地位。

TIDAS S MSP-200使用PMT光电倍增管作为光学传感器，可以快速灵敏的进行测试。并可以通过选择不同的配置，对各种样品进行反射、荧光或偏振分析的测量。TIDAS S MSP-200在数据采集程序和分析模式上都符合DIN/ISO标准。

软件介绍：

• 系统控制软件：MSP 200 软件（WIN XP / Vista）

使用 J&M 公司的MSP 200 软件，可以控制整个系统，调整测量参数和校准仪器等。

• 控制光度计和显微镜
• 单独配置测量参数
• 在各种直方图或表格中显示结果
• 数据存储多大10个通道
• 可导出不同的数据类型
• 校准标准可选（钻石、蓝宝石、YAG、GGG等）

•  在线视频成像软件：TidasVISION软件

使用J&M公司的TidasVISION软件，可实现在线视频影像和数据的同步采集。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。

• 可同时在线视频成像
• 可存储视频图像
• 在感兴趣的取样点上展示测量膜片

MSP200显微分光光度计-MSP200专业煤岩显微分析系统 测试软件界面：

技术参数：

产品尺寸：278*132*342 mm
产品重量：6.6kg
输入电压:90-240 VAC / 50-60 Hz
功耗：30W
光纤耦合器尺寸： Ø 48 x 58
可选配标准反射率晶体：1.72%、0.9%、0.59%、5.28%、0%
适配显微镜类型：莱卡或蔡司或奥林巴斯

MSP200显微分光光度计-MSP200专业煤岩显微分析系统最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

SemiProbe高频探针台-手动探针台-半导体测试探针台 产品描述：

SemiProbe高频探针台-手动探针台-半导体测试探针台 是一款模块化设计、价格适中、体积小巧的探针系统，适用于研发中心和各大高校，具有高稳定性和灵活性，满足实验室测量的需求。它配置完整，简单易操作，安装可经由客户完成，操作可在一小时内完成。Lab Assistant 探针台可以配置为直流或高频/微波测试配置，包括一系列精密配件，通常只在更大更昂贵的探针系统中使用。与之相比，一般情况下，这种功能的探针台是非常昂贵的，但这款实验室探针台以非常有竞争力的价格实现提供了多种产品特点和功能选项---多种平台、卡盘、光学组件和操纵器。并且可在之后增加各种附件从而增强系统功能性。此外，该探针台有50mm、100mm、150mm或200mm卡盘和支架可供选择，并可配备许多与PS4L系列探针台中所使用的相同的热卡盘、光学元件和操纵器。

SemiProbe高频探针台-手动探针台-半导体测试探针台 配置包括：

• 硬铝基座，带有橡胶隔振脚
• 晶圆平台粗调和细调，可更换级选项-封装部件或热部件
• 精细的平台移动，使用精准的测微计控制--- X (25 mm), Y (25 mm) & Z (>20 mm)
• 粗略（360°）和精细（10°）θ调整
• 卡盘，附有隔离适配器和真空控制系统
• 铝与不锈钢镀盘，附有可拆卸的前锲
• 精密测微计驱动压盘Z上升（13mm）
• 显微镜柱，附有同轴和线性显微镜X，Y移动100 mm x 100mm
• 7:1变焦(100x 放大倍率) 三目立体变焦显微镜，工作距离为100mm
• 两个DC MA-8005 操纵器，带磁性底座，面板和同轴探针臂（标准，For LA-xx DC）
• 两个DC MA-8000操纵器，带磁性底座和HF西/东探测臂（标准，For LA-xx HF）

技术参数（型号：LA-100 DC/HF）：

• 尺寸：420 mm X 540 mm X 535 mm
• 重量：32 kg
• 电源：AC 110/220V AC 50-60 Hz，20A
• 真空：23 Hg 或 -0.8 bar
• 基座：带橡胶隔振脚的实心铝刚性基座
• 卡盘X-Y轴移动：用于粗调的可调磁性滑轨（>100 mm）
• 微调-25 mm（X，Y）
• 整个支架可通过磁性基座轻松拆卸
• 卡盘Z移动：行程：20 mm
• θ移动：360°粗调，10°微调
• 卡盘类型：真空或机械夹紧，圆形或方形，高频等
• 压盘：铝和不锈钢顶部，可拆卸前楔
• 操纵器固定-磁性(标准)，真空(可选真空歧管)
• 压盘位移：测微计驱动调节压盘Z
• 显微镜安装：刚性铝柱（标准）或吊杆
• 显微镜移动：手动移动同轴和线性精密显微镜-100mm（X）和100mm（Y）

SemiProbe高频探针台-手动探针台-半导体测试探针台 可选配件：

CCTV系统（摄像机、监视器和适配器）、操纵器、探针臂、探针、电缆、光学隔振台，暗箱等

SemiProbe高频探针台-手动探针台-半导体测试探针台最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

MSP400显微分光光度计-J&M显微光度计 产品描述：

MSP400显微分光光度计-J&M显微光度计 可以非常有效地满足用户在法医学、材料科学、生物学和许多其他领域中对显微分析性能的严格要求，同时也因其快速和高灵敏度的测量能力使它深受全世界研究和工业用户的喜爱。TIDAS S MSP-400显微镜分光光度计是专为满足法医科学家的需要而设计的，其功能涵盖了与样品的透射、反射率或荧光有关的应用，具体取决于所选择的产品配置。同时系统还搭配了功能强大的软件以适应不同需求。此外，偏振和紫外范围的测量研究是可选的，这主要取决他所选择的显微镜配置。由于其固有的多功能性、高灵敏度和易用性,MSP400不仅可用于法医取证(纤维、油漆和玻璃、可疑文件)，还可以用于更多领域，例如材料科学(包括纳米技术),半导体行业(膜厚分析,污染研究)显示工业(LED, OLED或TFT显示器质量控制)等行业中。

TIDAS MSP 系统适用范围包括:

• 在透射模式下可以测量光纤的紫外/可见光光谱
•  关于反射率（明/暗场）所有应用程序，偏振或荧光，取决于所选择的配置
• 获取时间小于1秒
• 通过J&M TidasVISION软件在线视频图像和光谱的同步采集
•  灵活可调的控光装置
• 灵活运用于法医学(MSP 400/800)，岩相学(MSP 200)，材料学和生物学(MSP 200/400)
• 光电倍增器或 CCD 探测器
•  可适应不同制造商的显微镜

软件介绍：

1.系统控制软件：MSP 400 软件（WIN XP / Vista）J&M 的软件可方便仪器的控制。附加可用的软件包提供数据处理、文档编制、导出选项和存储的多种功能。该仪器采用了CIE色彩评估体系，并能够产生互补的色度坐标值（CCC 认证）。

• 控制光度计和显微镜
• 单独配置分析参数
• 基于CIE的色彩分析，CCC系统（互补色度坐标）色度说明
• 在各种直方图或表格中显示结果
• 可导出到不同的数据类型
• 校准标准可选

2.在线视频成像软件：TidasVISION软件使用J&M公司的TidasVISION软件，可实现在线视频影像和光谱的同步采集。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。

• 可同时在线视频成像
• 可存储视频图像
• 在感兴趣的取样点上展示测量膜片

测试软件界面：

MSP400显微分光光度计-J&M显微光度计 技术参数：

• 产品尺寸：345 x 145 x 315 mm
• 产品重量：8kg
• 输入电压:90-240 VAC / 50-60 Hz
• 光谱范围：360-780nm
• 光谱分辨率：<10nm
• 光谱精度：<3nm
• 波长重复性：<0.1nm
• 适配显微镜类型：莱卡或蔡司或奥林巴斯

MSP400显微分光光度计-J&M显微光度计最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。

J&MMSP1000显微分光光度计-科研级显微分光度计 可以非常有效地满足用户在法医学、材料科学、生物学和许多其他领域中对显微分析性能的严格要求，同时也因其快速和高灵敏度的测量能力使它深受全世界研究和工业用户的喜爱。J&M TIDAS S MSP-1000功能涵盖了与样品的透射、反射率或荧光有关的应用，具体取决于所选择的产品配置。该系统提供了一个完整的紫外/可见/近红外波长范围的显微镜光谱仪，可连接到不同制造商的显微镜。此外，该系统还配备了一个非常高灵敏度的TIDAS S近红外光谱仪，工作波长范围为950至2100nm。这两种光谱仪结合使用，可以涵盖从240nm到2100 nm的完整波长范围。

也可以分别操作这两种光谱仪。同时系统还搭配了功能强大的软件以适应不同需求。由于其固有的多功能性、高灵敏度和易性, J&M MSP1000不仅可用于法医取证(纤维、油漆和玻璃、有问题的文档)，还可以用于更多领域，例如材料科学(包括纳米技术),半导体行业(膜厚分析,污染研究)显示工业(LED, OLED或TFT显示器质量控制)等行业中。

软件介绍：

1、系统控制软件：MSP 1000 软件（WIN XP / Vista）J&M 的软件可方便仪器的控制。附加可用的软件包提供数据处理、文档编制、导出选项和存储的多种功能。该仪器采用了CIE色彩评估体系，并能够产生互补的色度坐标值（CCC 认证）。

• 控制光度计和显微镜
• 单独配置分析参数
• 基于CIE的色彩分析，CCC系统（互补色度坐标）色度说明
• 在各种直方图或表格中显示结果
• 可导出到不同的数据类型
• 校准标准可选

2、在线视频成像软件：TidasVISION软件

使用J&M公司的TidasVISION软件，可实现在线视频影像和光谱的同步采集。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。

• 可同时在线视频成像
• 可存储视频图像
• 在感兴趣的取样点上展示测量膜片

J&MMSP1000显微分光光度计-科研级显微分光度计 测试软件界面：

技术参数：

• 产品尺寸：345 x 145 x 315 mm
• 产品重量：8kg
• 输入电压:90-240 VAC / 50-60 Hz
• 光谱范围：1100-2100nm
• 光谱分辨率：<8nm
• 光谱精度：<1nm
• 波长重复性：<0.1nm
• 基线漂移：< 3*10^-3 AU/h according to USP 1119
• 信噪比：< 0.8nm
• A/D转换：16bit
• 适配显微镜类型：莱卡或蔡司或奥林巴斯

J&MMSP1000显微分光光度计-科研级显微分光度计最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。