量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 是一套快速、准确的量子效率测量系统，可以测量粉末、溶液和固体等材料的绝对量子效率，基本消除紫外杂散光的影响，此外，采用半球集成探测器，可实现高灵敏度且消除再激发功能，从而获得荧光粉的真正特性。可以测量的技术参数包括：量子效率（产率），激发波长依赖性，发射光谱PL激发光谱和EEM（激励排放矩阵）等。

工作原理：

QE-2000配备了集成半球的系统，具有各种独特功能。优化的几何形状可将非发射性零件定位在外部，从而使自吸收效应最小化，镜面照度约比现有的积分（全）球面高出两倍，还可轻松进行细胞装卸，以减少损坏球体内部的风险。QE-2000具有“真性”的再励消除功能。在包含再激励发射的条件下，不能获得真实的特性，因为其中包含了设备特性。利用积分球半球的优势，QE-2000可以使用消除再激励功能，荧光粉样品反射的激发光将在球体中进行漫反射，并且反射的激发光将再次采样，从而进行精确测量。与现有发出大量杂散光的探测器不同，Otsuka新发明了一种杂散光消除解决方案，用于QE-2000的阵列光谱仪的杂散光是现有模型的1/5（橙色光谱），可极大地减少紫外线区域的杂散光。

升级选项：

• 光谱仪规格可选（3683C/311C/2580C/3095C）
• 自动取样器
• 样品固定治具（粉剂测量用/薄膜测量用）
• 分离型量子效率测试系统QE-2100

技术参数：

测量参数

• 光谱范围：360~830nm/360~1100nm/250~800nm/300~950nm
• 像素波长宽度：1.0nm/0.5nm
• 光接收像素通道数：512ch/1024ch
• 传感器类型：电子冷却式CCD图形传感器
• 数电分辨率：16 bit ADC
• 分光器光学配置：背底（flatfield）型 F=3, f=85.8mm

激发光源

• 光源：150W Xe灯
• 激发波长：250~800nm
• 带宽：FWHM 5nm/Slit 0.6nm
• 样品抗光降解：自动关闭装置
• 激发波长控制：自动控制

积分球

• 材质：Spectralon（美国Labsphere）
• 尺寸：150mm半球（HalfMoon）

样品固定治具

• 粉剂测量固定治具：SUS304制，无石英盖
• 溶液测量固定治具（常温）：石英制溶液容器（开放型）

功耗

• 电源电压：AC 100~120V/AC 200~230V

软件

• 量子效率（量子产额）测量
• 量子效率（量子产额）的激发波长依赖特性
• 反射光谱测量
• PL激发光谱
• EEM（Excitation Emission Matrix）显示
• 二次激发校正
• 发光光谱测量
• 透过/吸收光谱测量
• 颜色演算（色度、色温、显色指数等）

测量流程：

量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪最先出现在主动减振台-光谱辐射计-自相关仪-标准灯箱-固润光电。