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量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪

量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪

浏览次数:697 分类:量子效率测试仪

品牌:Otsuka,型号:QE-2000

Otsuka QE-2000是一套快速、准确的量子效率测量系统,可以测量粉末、溶液和固体等材料的绝对量子效率,基本消除紫外杂散光的影响,此外,采用半球集成探测器,可实现高灵敏度且消除再激发功能,从而获得荧光粉的真正特性。可以测量的技术参数包括:量子效率(产率),激发波长依赖性,发射光谱PL激发光谱和EEM(激励排放矩阵)等。

量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 产品描述:

量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 是一套快速、准确的量子效率测量系统,可以测量粉末、溶液和固体等材料的绝对量子效率,基本消除紫外杂散光的影响,此外,采用半球集成探测器,可实现高灵敏度且消除再激发功能,从而获得荧光粉的真正特性。可以测量的技术参数包括:量子效率(产率),激发波长依赖性,发射光谱PL激发光谱和EEM(激励排放矩阵)等。

 

量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪

 

工作原理:

QE-2000配备了集成半球的系统,具有各种独特功能。优化的几何形状可将非发射性零件定位在外部,从而使自吸收效应最小化,镜面照度约比现有的积分(全)球面高出两倍,还可轻松进行细胞装卸,以减少损坏球体内部的风险。QE-2000具有“真性”的再励消除功能。在包含再激励发射的条件下,不能获得真实的特性,因为其中包含了设备特性。利用积分球半球的优势,QE-2000可以使用消除再激励功能,荧光粉样品反射的激发光将在球体中进行漫反射,并且反射的激发光将再次采样,从而进行精确测量。与现有发出大量杂散光的探测器不同,Otsuka新发明了一种杂散光消除解决方案,用于QE-2000的阵列光谱仪的杂散光是现有模型的1/5(橙色光谱),可极大地减少紫外线区域的杂散光。

 

量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 产品亮点:

  • 瞬间测得绝对量子效率(绝对量子产额)
  • 除去激发荧光发光光谱
  • 采用积分半球系统,实现高亮度测量
  • 采用低杂散光多频分光检出器,大幅度减少紫外杂光
  • 配套专用软件,操作简单
  • 设计紧凑,节省空间
  • 使用分光器类型的激发光源,可以选择任意波长
  • 可以设定激发光源的波长和步长,实现自动测量
  • 可测量粉剂、溶液、固体(薄膜)试料

应用范围

  • 测量LED、有机EL用荧光体的量子效率
  • 测量薄膜形状试料的透射荧光/反射荧光的量子效率
  • 测量量子点、荧光探针、生物领域、包含化合物等的荧光
  • 测量色素敏化太阳能电池的量子效率
  • 测量络合物化合物

 

升级选项:

  • 光谱仪规格可选(3683C/311C/2580C/3095C)
  • 自动取样器
  • 样品固定治具(粉剂测量用/薄膜测量用)
  • 分离型量子效率测试系统QE-2100

 

技术参数:

测量参数

  • 光谱范围:360~830nm/360~1100nm/250~800nm/300~950nm
  • 像素波长宽度:1.0nm/0.5nm
  • 光接收像素通道数:512ch/1024ch
  • 传感器类型:电子冷却式CCD图形传感器
  • 数电分辨率:16 bit ADC
  • 分光器光学配置:背底(flatfield)型 F=3, f=85.8mm

激发光源

  • 光源:150W Xe灯
  • 激发波长:250~800nm
  • 带宽:FWHM 5nm/Slit 0.6nm
  • 样品抗光降解:自动关闭装置
  • 激发波长控制:自动控制

积分球

  • 材质:Spectralon(美国Labsphere)
  • 尺寸:150mm半球(HalfMoon)

样品固定治具

  • 粉剂测量固定治具:SUS304制,无石英盖
  • 溶液测量固定治具(常温):石英制溶液容器(开放型)

功耗

  • 电源电压:AC 100~120V/AC 200~230V

软件

  • 量子效率(量子产额)测量
  • 量子效率(量子产额)的激发波长依赖特性
  • 反射光谱测量
  • PL激发光谱
  • EEM(Excitation Emission Matrix)显示
  • 二次激发校正
  • 发光光谱测量
  • 透过/吸收光谱测量
  • 颜色演算(色度、色温、显色指数等)

 

测量流程:

量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 测试流程图

 

 

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