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响应时间测试仪-液晶响应时间测试系统-RTM3
浏览次数:15177 分类:Microvision / WP 品牌分类 响应时间测量 液晶时间响应测试系统
品牌：Microvision，型号：RTM-3
RTM-3是一个专门用于测试响应时间的模块，主要测量包括上升时间，下降时间，过冲Overshoot，运动模糊，灰度响应和频闪Flicker，可以连接示波器显示测量结果，也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量，也可以安装在位移台上，用于自动测量显示屏的不同位置。
响应时间测试仪-液晶响应时间测试系统-RTM3 产品描述：
响应时间测试仪-液晶响应时间测试系统-RTM3 是Mircovision一个专门用于测试显示响应时间模块,主要测量包括上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析.RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置,RTM是一个集成的光电二极管/放大器单元,安装在带有适当驱动电子元件的PC板上.它位于光学测量模块(OMM)最上面的位置,也是关闭的.透镜系统与CCD相机标准透镜系统相同,只是多了一个热镜.RTM镜头的光圈和焦距是可变的.热镜用来阻止任何红外线.热镜能阻止波长为700nm或更高的红外辐射撞击光电二极管.使用可 变数量的扩展器耦合允许选择大范围的放大.如果使用的扩展器耦合的数量等于CCD相机 中扩展器耦合的数量,则RTM探测器的放大倍数与CCD相机相同. RTM还使用ADC板处理时态数据.RTM探测器可以由外部触发,也可以由内部触发.在这两种情况下,系统都可以在强度变化之前或之后立即存储和显示事件.RTM也可以作为一个独立装置使用.
产品亮点：
- 多功能集合体，设计紧凑
- 灵活搭配，可定制
- 动态范围广，无需ND滤光片
- 自动化测试
- 程序自动控温，精确测量
- 包含MV系统软件，操作界面友好
- 提供完整测试方案
- 基于FPDM标准设计
- 用户可自定义客制化测试
- NIST可溯源校准
应用范围：
- 平板显示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
- 智能移动显示 - 手机，平板
- 投影显示 - 选用余弦扩散器测试
- 抬头显示 - HUD & HDD
- HDTV，NTSC, PAL & SECAM电视
- 适用SS90定位器可测试超大尺寸93”屏幕
- CRT显示 - 单色，彩色，高分辨率医学显示器
技术参数：
RTM 时间响应模块
- 光型：低噪声，快速响应光电二极管
- 样品频率：1MHz Max. (500kHz可选)
- 分辨率：16位
- 探测器响应：20kHz(滤波)
- 瞬变时间：0.1ms ~ 4s（0.01ms可选RTM-HS）
- 同步性：软件和外部选项
- 重复性：3%
- 亮度范围：0.01 ~ 50Kcd/m2
响应时间测试仪-液晶响应时间测试系统-RTM3 升级选项：
- 更高的灵敏度（RTM-HS，响应时间可达10μs，可用于OLED响应时间测试）
- 多功能光学测量模块SS410（搭配CCD相机或光谱辐射计）
- 精准位移台（搭配位移台，可精确位移从而实现自动测试）
- 标准测量（VESA FPDM 2.0，TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0，ISO 9241-3XX，ISO 13406）
- DUT位移台（DPS-1显示位移台，可以调整DUT x,y,z轴位置，并可调整角度，精度为0.1°）
- 完整测量系统（搭配其他组件，组成SS430系统）
测试案例:
