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Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

浏览次数:17 分类:太赫兹光谱测试 太赫兹成像 太赫兹时域光谱仪

品牌:Microtech,型号:THz SPECTROMETERS

Microtech Instruments公司可提供整套的太赫兹光谱系统,以满足用户各种不同的需求:

-紧凑型THz光谱系统:美国Microtech公司提供的紧凑型太赫兹光谱仪能够在100GHz到1.5THz光谱范围内进行透射测量。该系统是基于毫米波返波振荡器(BWO)与倍频器和宽频热释电探测器的相结合。

-THz透射光谱系统:使用透射光谱系统进行透射测量是表征高透明材料的最佳方法。

-THz反射光谱系统:半透明材料的表征需要使用THz Mach-Zehnder干涉光谱系统。

-THz马赫—曾德干涉光谱系统:不透明材料的表征需要反射光谱系统。

Originally posted on 2020年11月19日 @ 上午6:00

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

一、Microtech成像系统 

1、光栅扫描成像系统 

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪 使用与透射光谱仪相似的光学配置,但利用线性平台来支撑和移动太赫兹光束焦点中的物体。中心焦点确保成像仪具有良好的分辨率,并通过将整个信号聚焦在一个小点上,从而实现高动态范围。

关键特征包括:

  • 可与BWO和TPO源一起使用
  • 配有易于使用的软件
  • 无损评估的理想工具

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪 紧凑型

2、T-Vision:视频流成像系统 

T-Vision成像系统为高帧率成像应用提供了完美的解决方案。T-Vision成像系统是一套完整的集成系统,集成了我们的TPO发生器和成像元件。成像是基于无线性进程,进程中hte太赫兹图像是混合了近红外脉冲,产生一个向上转换的近红外图像用于和CMOS相机探测使用。该系统可根据客户具体需求客制化。用户可根据具体的应用需求自行搭建不同的基于BWO返波管的THz光谱系统。

T-Vision系统是一个一体化系统,将我们的TPO发生器与成像光学系统集成在一起。成像是基于一个非线性过程,其中THz图像与近红外脉冲混合,产生一个上转换的近红外图像,该图像可通过CMOS相机检测。此外,该系统还可根据用户的需求进行定制。

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪 成像型

 

二、Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

Microtech Instruments公司可提供整套的太赫兹光谱系统,以满足用户各种不同的需求:

-紧凑型THz光谱系统

-THz透射光谱系统

-THz反射光谱系统

-THz马赫—曾德干涉光谱系统

 

1、紧凑型 Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

美国Microtech公司提供的紧凑型太赫兹光谱仪能够在100GHz到1.5THz光谱范围内进行透射测量。该系统是基于毫米波返波振荡器(BWO)与倍频器和宽频热释电探测器的相结合。太赫兹光谱仪能够在180GHz到1.42THz的光谱范围内进行高分辨率的光谱测量。这些系统运用了频率可调谐的返波振荡器(BWOs)作为太赫兹辐射源,Golay Cells(高莱探测器)作为探测器。

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪插图(2)

主要特点:

  • 光谱范围:100 GHz – 1.5 THz
  • 光谱分辨率:1 – 10 MHz
  • 动态范围:10^4

技术参数:

光谱范围:
  • TScan-260:180-260GHz
  • TScan-370:180-260GHz
  • TScan-1100:180-1100GHz
  • TScan-1250:180-1250GHz
  • TScan-1420:180-1420GHz

 

2、太赫兹透射光谱系统

使用透射光谱系统进行透射测量是表征高透明材料的最佳方法。特别是,平面平行板的透射光谱由于干涉(Fabry-Perot etalon fringes)的原因呈现出周期性透射图样。可通过这些测量决定介电常数实部和虚部,因为标准具条纹的周期和振幅分别取决于材料折射指数和吸收率。

对半透明材料进行特征分析则需要使用THz Mach-Zehnder干涉光谱系统,具体请看以下Mach-Zehnder干涉光谱系统的介绍。因为在此类材料的透射光谱中无法观察到标准具条纹。Mach-Zehnder装置可以测量由样品作为频率函数所引起的相移。结合这些数据和透射光谱,可以计算出介电常数的实部和虚部。

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪插图(3)

 

3、Mach-Zehnder(马赫—曾德)干涉光谱系统

半透明材料的表征需要使用THz Mach-Zehnder干涉光谱系统,因为在此类材料的透射光谱中无法观察到标准具条纹。Mach-Zehnder装置可以测量由样品作为频率函数所引起的相移。结合这些数据和透射光谱,可以计算出介电常数的实部和虚部。

高吸收材料只能用反射几何体来表征。

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪插图(4)

 

4、太赫兹反射光谱系统

不透明材料的表征需要反射光谱系统。这是由于发射信号太弱,无法表征,因此采用六轴控制系统测量反射信号。与透射光谱仪和相位分光计一样,通过软件的理论拟合能力,可以快速计算出折射率、消光系数和双折射函数的实部和虚部。

太赫兹透射、Mach-Zehnder和反射光谱系统由TScan软件支持,可实现自动数据采集和分析。对于系统中使用的每个BWO,一次光谱扫描需要1-5分钟。

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

 

 

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