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光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS

光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS

浏览次数:1673 分类:响应时间测量 液晶时间响应测试系统

品牌:Microvision,型号:RTM-HS

RTM-HS是一个专门用于测试响应时间的模块,瞬变时间能达到10μs,可以用于测量OLED,QLED等新型产品的上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker等,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。

光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 产品描述:

光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 是Microvision 一个专门用于显示设备测试响应时间模块,瞬变时间能达到10μs,可以用于测量OLED,QLED等新型产品的上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker等,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。

 

光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS

 

工作原理:

RTM是一个集成的光电二极管/放大器单元,安装在带有适当驱动电子元件的PC板上。它位于光学测量模块(OMM)最上面的位置,也是关闭的。透镜系统与CCD相机标准透镜系统相同,只是多了一个热镜。RTM镜头的光圈和焦距是可变的。热镜用来阻止任何红外线。热镜能阻止波长为700nm或更高的红外辐射撞击光电二极管。使用可 变数量的扩展器耦合允许选择大范围的放大。如果使用的扩展器耦合的数量等于CCD相机 中扩展器耦合的数量,则RTM探测器的放大倍数与CCD相机相同。 RTM还使用ADC板处理时态数据。RTM探测器可以由外部触发,也可以由内部触发。在这两种情况下,系统都可以在强度变化之前或之后立即存储和显示事件。RTM也可以作为一个独立装置使用。

 

产品亮点:

  • 多功能集合体,设计紧凑
  • 灵活搭配,可定制
  • 动态范围广,无需ND滤光片
  • 自动化测试
  • 程序自动控温,精确测量
  • 包含MV系统软件,操作界面友好
  • 提供完整测试方案
  • 基于FPDM标准设计
  • 用户可自定义客制化测试
  • NIST可溯源校准

应用范围

  • 平板显示(FPD)- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
  • 智能移动显示 – 手机,平板
  • 投影显示 – 选用余弦扩散器测试
  • 抬头显示 – HUD & HDD
  • HDTV,NTSC, PAL & SECAM电视
  • 适用SS90定位器可测试超大尺寸93”屏幕
  • CRT显示 – 单色,彩色,高分辨率医学显示器

 

技术参数:

RTM 时间响应模块

  • 光型:低噪声,快速响应光电二极管
  • 样品频率:1MHz Max. (500kHz可选)
  • 分辨率:16位
  • 探测器响应:20kHz(滤波)
  • 瞬变时间:0.01ms ~ 4s
  • 同步性:软件和外部选项
  • 重复性:3%
  • 亮度范围:0.01 ~ 50Kcd/m2

 

光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 升级选项:

  • 多功能光学测量模块SS410(搭配CCD相机或光谱辐射计)
  • 精准位移台(搭配位移台,可精确位移从而实现自动测试)
  • 标准测量(VESA FPDM 2.0,TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0,ISO 9241-3XX,ISO 13406)
  • DUT位移台(DPS-1显示位移台,可以调整DUT x,y,z轴位置,并可调整角度,精度为0.1°)
  • 完整测量系统(搭配其他组件,组成SS430系统)

测试案例:

光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS-软件界面

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