显示器性能综合测试系统-显示设备光学特性综合测试系统-SS430

显示器性能综合测试系统-显示设备光学特性综合测试系统-SS430 产品描述：

Microvision-显示器性能综合测试系统-显示设备光学特性综合测试系统-SS430-是一套完备的显示测量系统，它结合了SS410和SS420模块的全部功能，配置了电脑软件、位移台、自带信号源，可快速进行严谨的标准测试如TCO，VESA FPDM，ISO等，适用于现有的绝大部分显示屏测量，包括电视、显示屏、平板电脑、车载导航屏，还可以通过MV Remote控制模式，对智能手机、平板电脑等产品进行测量。

工作原理：

Microvison SS410和SS420显示测量系统非常相似，除了光学模块本身，它们共享所有相同的组件。SS430则是这两个系统的组合。MV系统允许在两个光学模块之间轻松切换，用户可自由选择使用SS410或SS420。Spotseeker自动定位系统通过提供多个运动轴快速准确地定位SS410/420，以简化测量过程。沿着焦点轴进行水平和垂直运动。该Spotseeker可以手动驱动，也可以根据程序测试序列自动驱动。除了选择经过验证的显示测量功能外，SS430系统为自定义测试序列或多个标准（如：ISO-13406、ISO-9241、 ISO-9241-3XX、 TCO-0X）的测试提供测试套件工具。测试套件工具允许用户定义测量序列和功能，这些测量序列和功能可以保存起来以备将来调用。

升级选项：

• 标准测量（VESA FPDM 2.0，TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0，ISO 9241-3XX，ISO 13406）
• DUT位移台（DPS-1显示位移台，可以调整DUT x,y,z轴位置，并可调整角度，精度为0.1°）
• 提升测量范围（适用ND滤光片，提高感光器件的测试范围）

技术参数：

CCD相机

• 图像传感器：1392×1040 像素
• 数字视频：12-位
• 元件尺寸：6.45 μm/像素
• 同步性：同步捕获
• 滤镜：适光性 50%, 20%, 10% & 1% ND
• 标准镜头：25mm C mount, f1.6 – f16
• 视场：11mm,可调节
• 工作距离范围：0.5~3.5 m
• 亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A
• 亮度范围：0.05 ~ 10⁶ cd/m² （含ND滤镜）
• 测量时间：对于多数测量<1 sec

RTM 时间响应模块

• 光型：低噪声，快速响应光电二极管
• 样品频率：1MHz Max. (500kHz可选)
• 分辨率：16位
• 探测器响应：20kHz(滤波)
• 瞬变时间：0.1ms ~ 4s（0.01ms可选RTM-HS）
• 同步性：软件和外部选项
• 重复性：3%
• 亮度范围：0.01 ~ 50Kcd/m²

Spectrometer + Goniometer 光谱辐射计+测角仪

• 测角仪倾斜角：0~85°
• 测角仪方位角：0~360°
• 波长范围：380 ~ 780nm (1000nm可选)
• 亮度范围：0.01 ~ 500K cd/m²
• 亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A
• 亮度重复率：超过30分钟RSD < 0.5%,0.01 cd/m²灵敏度@ 3% RSD
• 色彩准确度：± 0.002 @ 2856K Ill.A
• 色彩重复率：± 0.0005 @ 2856K Ill.A
• 温度管理：电脑自动控制
• 光学器件：12mm 准直
• 视场角：1.5°
• 数字分辨率：16 bit A/D
• 积分时间：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)
• 光学分辨率：3.8nm半高宽 @ 100μm狭缝
• 校准：NIST可追溯
• 操作温度：5~ 30℃

Pan & Tilt 位移台

• 位移距离X*Y*Z轴：2066 * 1265 * 84mm（可选）
• 分辨率：25.4μm / 50.8μm
• 速度：45mm/sec / 90mm/sec
• 精度：±0.05mm / 0.10mm
• 尺寸：2388 * 152 * 1638mm

测试案例：